反射率测量系统
说明
在实际应用中，经常需要测量某些物体的光谱反射特性，本系统提供了一个快捷测量方案,测量物体的反射率。
系统配置
1：光谱仪
2：软件SpectraPro V3.3
3：卤素灯光源
4：标准白板
5：Y型光纤1根（SMA905）
将卤素灯引出来的光纤接口连接到滤色片固定架的一头，滤色片固定架的另一头连接到光谱仪的入光口。
搭建测量系统后，进行如下123测量：
1、 测量背景光
由于环境并不是完全的无光状态，因此我们需要测量并减扣环境中的背景光，减少环境光源对测量结果的影响。测量前需要关闭卤素灯光源，在此状态下将光谱采集到SpectraPro软件中进行显示，此时点击“菜单-测量功能-缓存背景光-测量功能-显示测量控制台。
2、 测量参考光
在测量背景光之后，打开卤素灯光源，然后将Y型光纤的C口垂直对准标准白板，在此状态下将光谱采集Spectral软件中进行显示，此时点击：“菜单-测量功能-缓存参考光（F10）”将测量到的参考光谱保存。
3、 测量反射率
在完成上述1、2步骤后，可以开始测量反射率。将光谱采集到SpectraPro软件中进行显示，此时点击“菜单-测量功能-反射率模式”将得到系统此时的反射率。如果需要保存结果，请按“空格”暂停采集，然后点击“菜单-文件-另存光谱”保存此时的反射率曲线。如果需要测量其他样品的反射率，那么可以直接将Y型光纤的C口对准物体表面，而不必重复1、2步骤。